随着 5G 通讯、人工智能、新能源汽车等新型应用的逐步普及,以及受传统产业数字化转型需求驱动,终端应用对集成电路的性能要求成几何级数增长,芯片集成度不断增大,工艺制程日益复杂,工艺要求越发严苛。与之相对应的,集成电路测试也越发困难和复杂。同时,国内芯片设计企业的产品性能及技术能力在不断提升,进而对芯片品质、测试环境、流程管控、交期需求等方面的要求也越来越高。
例如,Chiplet、3D 堆叠、异构集成等新兴技术需要新的测试方法和工具来确保复杂系统的功能和可靠性;人工智能、云计算、自动化等算力芯片需要具备海量数据分析、高效且精确的测试方案;5G、汽车电子、工业控制等新兴应用对集成电路产品的性能、质量、可靠性等提出了更高的要求,需要更先进的测试服务来满足客户需求。
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