芯片高性能需求对 TGV(玻璃穿孔)等先进封装技术提出更高要求。传统硅基转接板 2.5D集成技术存在两个主要问题:
1)成本高,硅通孔(TSV)制作采用硅刻蚀工艺,随后硅通孔仍需要氧化绝缘层、薄晶圆的拿持等技术;
2)电学性能差,硅材料属于半导体材料,传输线在传输信号时,信号与衬底材料有较强的电磁耦合效应,衬底中产生涡流现象,造成信号完整性较差(插损、串扰等)。而玻璃基板作为有可能替代硅基转接板的材料,玻璃通孔(TGV)技术是必备前提。
目前用于制造 TGV(玻璃通孔)的工艺主要有喷砂法、光敏玻璃法、等离子刻蚀法和激光诱导刻蚀法等。其中激光诱导刻蚀法具有成孔效率快、可制作高密度、高深宽比的玻璃通孔、玻璃通孔无损伤等优点,在皮秒、飞秒等超快激光器技术进一步成熟、成本下降趋势下已成为主流的 TGV 制造工艺。
激光诱导刻蚀法的基本原理是:通过脉冲激光诱导玻璃产生连续的变性区,相比未变性区域的玻璃,变性玻璃在氢氟酸中刻蚀速率较快,基于这一现象来制作通孔。该技术由德国 LPKF公司率先推广,并主要分为两步:
1)使用皮秒激光在玻璃上产生变性区域;
2)将激光处理过的玻璃放到氢氟酸溶液中进行刻蚀。此外国内大族激光、云天半导体、帝尔激光和德龙激光等公司也已具备类似技术,并已推出相关 TGV 钻孔设备。
在制作 TGV 玻璃通孔后还需实施填孔方案。首先通过物理气相沉积(PVD)的方法在 TGV盲孔内部沉积种子层;再自底向上电镀,实现 TGV 的无缝填充;最后,通过临时键合,背面研磨、化学机械抛光(CMP)露铜,解键合,形成 TGV 金属填实转接板。
TGV 填孔方案的工艺流程,包括:玻璃盲孔制备,TGV 铜填实,铜覆盖层去除过程,顶部重布线层(RDL)(TR1)过程,临时键合,研磨减薄露铜,底部 RDL(BR1)制备,解键合等工艺过程。
资料来源:《玻璃通孔技术研究进展》,源达信息证券研究所
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